Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении.

Main
Дифракционные и микроскопические методы...

Дифракционные и микроскопические методы в материаловедении.

Амелкинс С.

0 / 0

Avez-vous aimé ce livre?

Quelle est la qualité du fichier téléchargé?

Veuillez télécharger le livre pour apprécier sa qualité

Quelle est la qualité des fichiers téléchargés?

Année:

1984

Langue:

russian

Pages:

252

Fichier:

DJVU, 18.08 MB

IPFS:

,

russian, 1984

Lire en ligne

La conversion en est effectuée

La conversion en a échoué

Cela peut vous intéresser

— Монокристаллическиые плёнки

коллектив авторов — Моделирование на ЭВМ дефектов в металлах

Асланов Л.А., Треушников Е.Н. — Основы теории дифракции рентгеновских лучей.

Максимов С. — Определение природы призматических дислокационных петель по остаточному контрасту при gb＝0 и S＝0 [Текст]

Келли А. — Кристаллография и дефекты в кристаллах

Утевский Л. — Дифракционная электронная микроскопия в металловедении

Э.В. Суворов — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов : учеб. пособие.

Э.В. Суворов — Методы исследования реальной структуры и состава материалов: Учебно- методический комплекс дисциплины.

Иверонова В.И., Ревкевич Г.П. — Теория рассеяния рентгеновских лучей

Суворов Э. В. — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов: учеб. пособие

Иванов А.Н., Поляков А.М. — Анализ несовершенств кристаллического строения по профилю и интенсивности рентгеновских отражений: Учебное пособие для студентов специальности 0709.00 и направлений 5104.3 и 5104.11

Суворов Э. В. — Физические основы экспериментальных методов исследования реальной структуры кристаллов: учеб. пособие

Шаскольская М.П. — Кристаллография

Вайнштейн Б.К. (ред) — Современная кристаллография

Кривоглаз М.А. — Дифракция рентгеновских лучей и нейтронов в неидеальных кристаллах

Уманский Я. С., Скаков Ю. А., Иванов А. Н., Расторгуев Л. Н. — Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия

Фридель Ж. — Дислокации

Уманский Я.С. — Рентгенография металлов

П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан — Электронная микроскопия тонких кристаллов

Хейденрайх Р. — Основы просвечивающей электронной микроскопии

Аникина В.И. — Основы кристаллографии и дефекты кристаллического строения

Даниленко Владимир Михайлович — Что такое твердое тело?

Тейлор А. — Рентгеновская металлография

Асланов Л.А., Треушников Е.Н. — Основы теории дифракции рентгеновских лучей

Пинес Б.Я. — Лекции по структурному анализу

Векилова Г.В., Иванов А.Н. — Кристаллография, рентгенография и электронная микроскопия. Часть 3

Бублик В.Т., Дубровина А.Н. — Сборник задач и упражнений по курсу ’’Методы исследования структуры

Инденбом В.Л., Орлов А.Н. — Физическая теория пластичности и прочности

Андронов А.Н. — Изучение структуры поверхности методом дифракции медленных электронов (ДМЭ)

Вайнштейн Б.К. — Электронная микроскопия атомного разрешения

Коллектив авторов — Методы структурного анализа и контроль качества изделий

Палатник Л.С., Сорокин В.К. — Материаловедение в микроэлектронике

Каули Дж. (J.M.Cowley) — Физика дифракции

Георгобиани, Шейнкман. (ред.) — Физика соединений АИИБВИ

Каули Дж. — Физика дифракции

Mots Clefs

изображения

кристалла

поверхности

электронов

рассеяния

интенсивности

контраста

дифракции

контраст

дислокаций

плоскости

дефектов

изображение

изображений

структуры

дислокации

рентгеновских

кристаллов

отражения

деформации

следовательно

изображении

интенсивность

упаковки

излучения

являются

микроскопии

получения

электронной

условиях

кристалл

получить

результаты

результате